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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
WQ9600A晶體管多功能篩選儀
◆儀器采用32位高速ARM處理器技術(shù)，內(nèi)部時(shí)鐘高達(dá)100MHz，能夠真正準(zhǔn)確測(cè)量晶體管的開關(guān)時(shí)間，并且將時(shí)間測(cè)量分辨力提高到0.01μS。
◆能夠自動(dòng)測(cè)量晶體管的放大倍數(shù)β、開關(guān)時(shí)間（上升時(shí)間Tr、存儲(chǔ)時(shí)間Ts、下降時(shí)間Tf）、正向壓降Vbe、飽和壓降Vces、耐壓BVceo、漏電流Iceo等參數(shù)。
詳情介紹：
WQ9600A晶體管多功能篩選儀
功能特點(diǎn)：
◆儀器采用32位高速ARM處理器技術(shù)，內(nèi)部時(shí)鐘高達(dá)100MHz，能夠真正準(zhǔn)確測(cè)量晶體管的開關(guān)時(shí)間，并且將時(shí)間測(cè)量分辨力提高到0.01μS。
◆能夠自動(dòng)測(cè)量晶體管的放大倍數(shù)β、開關(guān)時(shí)間（上升時(shí)間Tr、存儲(chǔ)時(shí)間Ts、下降時(shí)間Tf）、正向壓降Vbe、飽和壓降Vces、耐壓BVceo、漏電流Iceo等參數(shù)。
◆儀器在本機(jī)數(shù)字顯示測(cè)量參數(shù)的同時(shí)還將測(cè)量參數(shù)及設(shè)置參數(shù)通過高速USB接口發(fā)送至電腦，方便用戶對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、打印等管理。
◆儀器能夠根據(jù)測(cè)量參數(shù)對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行自動(dòng)分批、對(duì)不合格器件自動(dòng)報(bào)警，并且指明不合格項(xiàng)目。
◆測(cè)試速度非?？旖荩?秒鐘內(nèi)完成參數(shù)測(cè)試。非常適合電子整流器、節(jié)能燈生產(chǎn)廠家對(duì)晶體管進(jìn)行快速批量篩選。
技術(shù)參數(shù)：
1. 測(cè)量參數(shù)Measure parameter:
◆放大倍數(shù)β：（0 - 999）
◆開關(guān)時(shí)間Switching time T ：(0.01μS - 99.9μS)，包括上升時(shí)間、存儲(chǔ)時(shí)間、下降時(shí)間。Including Tr、Ts、Tf
◆飽和壓降Vces：（0 - 2V）
◆正向壓降Vbe：（0 - 2V）
◆漏電流Leakage current Iceo：（0.01μA - 3mA）
◆耐壓Withstand voltage BVceo：（50V - 650V）
2. 測(cè)試條件 Testing conditions:
◆β測(cè)試Ib注入電流分三檔 β test three different Ib current：0.1mA、1.0mA、10mA。
◆開關(guān)時(shí)間測(cè)試Ic電流分四檔 Switching time test four different Ic current：0.5A、0.25A、0.1A、0.05A；對(duì)應(yīng)Ib電流為 the corresponding Ib current: 0.1A、0.05A、0.02A、0.01A。
◆Vbe、Vces的測(cè)試條件與開關(guān)時(shí)間測(cè)試條件相同The testing condition of Vbe and Vces is same as switching time testing condition.
◆漏電流Iceo測(cè)試電壓: 50V~650V連續(xù)可調(diào)。Test voltage for leakage current Iceo: 50V~650V adjustable.
